淺談絕緣電阻測(cè)試儀及兆歐表的組成和選用標(biāo)準(zhǔn)

1、絕緣電阻測(cè)試儀（高精度LCR測(cè)試儀）兆歐表的組成
    絕緣電阻測(cè)試儀（高精度LCR測(cè)試儀）主要由三部分組成。*是直流高壓發(fā)生器，用以產(chǎn)生一直流高壓。第二是測(cè)量回路。第三是顯示。
(1)直流高壓發(fā)生器 
    測(cè)量絕緣電阻必須在測(cè)量端施加一高壓，此高壓值在絕緣電阻測(cè)試儀國(guó)標(biāo)中規(guī)定為50V、100V、250V、500V、1000V、2500V、5000V… 直流高壓的產(chǎn)生一般有三種方法。*種手搖發(fā)電機(jī)式。目前我國(guó)生產(chǎn)的絕緣電阻測(cè)試儀約80%是采用這種方法(搖表名稱來(lái)源)。第二種是通過(guò)市電變壓器升壓，整流得到直流高壓。一般市電式絕緣電阻測(cè)試儀采用的方法。第三種是利用晶體管振蕩式或脈寬調(diào)制電路來(lái)產(chǎn)生直流高壓，一般電池式和市電式的絕緣電阻測(cè)試儀采用的方法。
(2)測(cè)量回路
    在前面講的絕緣電阻測(cè)試儀中測(cè)量回路和顯示部分的合二為一的。它是有一個(gè)流比計(jì)表頭來(lái)完成的，這個(gè)表頭中有兩個(gè)夾角為60?左右)的線圈組成，其中一個(gè)線圈是并在電壓兩端的，另一線圈是串在測(cè)量回路中的。表頭指針的偏轉(zhuǎn)角度決定于兩個(gè)線圈中的電流比，不同的偏轉(zhuǎn)角度代表不同的阻值，測(cè)量阻值越小串在測(cè)量回路中的線圈電流就越大，那么指針偏轉(zhuǎn)的角度越大。另一個(gè)方法是用線性電流表作為測(cè)量和顯示。前面用到的流比計(jì)表頭中由于線圈中的磁場(chǎng)是非均勻的，當(dāng)指針在無(wú)窮大處，電流線圈正好在磁通密度zui強(qiáng)的地方，所以盡管被測(cè)電阻很大，流過(guò)電流線圈電流很少，此時(shí)線圈的偏轉(zhuǎn)角度會(huì)較大。當(dāng)被測(cè)電阻較小或?yàn)?時(shí)，流過(guò)電流線圈的電流較大，線圈已偏轉(zhuǎn)到磁通密度較小的地方，由此引起的偏轉(zhuǎn)角度也不會(huì)很大。這樣就達(dá)到了非線性的矯正。一般絕緣電阻測(cè)試儀表頭的阻值顯示需要跨幾個(gè)數(shù)量級(jí)。但當(dāng)用線性電流表頭直接串入測(cè)量回路中就不行了，在高阻值時(shí)的刻度全部擠在一起，無(wú)法分辨，為了也要達(dá)到非線性矯正就必須在測(cè)量回路中加入非線性元件。從而達(dá)到在小電阻值時(shí)產(chǎn)生分流作用。在高電阻時(shí)不產(chǎn)生分流，從而使阻值顯示達(dá)到幾個(gè)數(shù)量級(jí)。隨著電子技術(shù)及計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，數(shù)顯絕緣電阻測(cè)試儀逐步取代指針式儀表。
數(shù)字化絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量技術(shù)也得到了發(fā)展，其中壓比計(jì)電路就是其中一個(gè)較好測(cè)量電路，壓比計(jì)電路是由電壓橋路和測(cè)量橋路組成。這兩個(gè)橋路輸出的信號(hào)分別通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換再通過(guò)單片轉(zhuǎn)換成數(shù)字值顯示。
2、絕緣電阻測(cè)試儀及兆歐表的選用
    選用絕緣電阻測(cè)試儀主要是測(cè)量電壓值，另一個(gè)是需要測(cè)量的范圍，是否能滿足需要。如測(cè)量很頻繁選帶有報(bào)警設(shè)定功能。